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  • JX-200E 倒置金相显微镜 金相分析,光纤检测

产品名称: JX-200E 倒置金相显微镜 金相分析,光纤检测

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规格:

标有“(选配)”为选配,其他为标配!

光学系统有限远色差校正系统
观察筒铰链式三目,45°倾斜,双边±5屈光度可调,瞳距调节范围:54-75mm,固定式分光比,双目:三目=80%:20%
目镜高眼点大视野平场目镜PL10X/18mm
高眼点大视野目镜WF15X/13(选配)
高眼点大视野目镜WF20X/10mm(选配)
金相物镜长工作距平场消色差专业金相物镜5X,10X,20X,50X100X(选配)
转换器内定位四孔转换器
内定位五孔转换器(选配)
调焦机构低手位粗微调同轴调焦机构,粗动每转行程38 mm;微调精度2um,带松紧调节机
载物台三层机械移动平台,面积180mmX155mm,右手低手位控制,行程:75mm×40mm; 金属载物台板,中心孔直径φ12mm
照明系统反射式柯拉照明,带可变孔径光阑和中心可调视场光阑,自适应90V-240V宽电压6V30W卤素灯(可选配单颗3W LED灯),光强连续可调(选配)
偏光装置起偏镜和检偏镜均可移出光路,检偏镜插板可360°旋转
摄像装置0.5X/1.0X  C型摄像接筒(选配)
软件专业金相分析软件(选配)



产品详情:

JX-200E系列金相显微镜

■使用金相物镜及平场目镜,成像质量好,分辨率高,观察舒适。

■选配相应的摄影摄像附件,可对观察图像进行采集和保存,配电脑和专业金相分析软件

  图像进行金相图像分析。

■操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分

  析、精密工程测量等领域。


服务:
JX-200E 倒置金相显微镜 金相分析,光纤检测
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常见问题:
注意事项:

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